特点:
• 可更换、可调焦的光学器件，可灵活地使用相机
• 分析小至28微米的芯片级元件
• 免手操作，可同时进行测试和红外成像
• 帧率高达125赫兹，过程检测快速（如脉冲激光二极管）
• 辐射视频或TIFF记录，测量精度为+/-2 °C
• 包括免许可分析软件和完整的SDK
技术参数:
